Source: Anais eletrônicos. Conference titles: Simpósio em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM. Unidades: IFSC, EESC
Subjects: TOMOGRAFIA COMPUTADORIZADA POR RAIOS X, LAMINADOS
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ABNT
GOYO-BRITO, F. et al. Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning. 2017, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Escola de Engenharia de São Carlos - EESC, 2017. Disponível em: http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514. Acesso em: 07 maio 2024.APA
Goyo-Brito, F., Ferreira, A., Andreeta, M., Bonagamba, T. J., & Tarpani, J. R. (2017). Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning. In Anais eletrônicos. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Escola de Engenharia de São Carlos - EESC. Recuperado de http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514NLM
Goyo-Brito F, Ferreira A, Andreeta M, Bonagamba TJ, Tarpani JR. Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning [Internet]. Anais eletrônicos. 2017 ;[citado 2024 maio 07 ] Available from: http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514Vancouver
Goyo-Brito F, Ferreira A, Andreeta M, Bonagamba TJ, Tarpani JR. Stacking arrangement improvers artifact of X Ray-CT on impacted fimer-metal laminates scanning [Internet]. Anais eletrônicos. 2017 ;[citado 2024 maio 07 ] Available from: http://eventos.eesc.usp.br/index.php/SICEM/xviiisicem/paper/view/861/514
